JW-BK 基础型比表面分析仪详细介绍

概述

比表面积及孔径分布，是表征微纳米粉体材料表面物性及孔结构的重要参数之一，常用、可靠的方法是静态容量法气体吸附。JW-BK基础型系列全自动比表面及孔径分析仪即能准确可靠解决粉体材料比表面积及孔径分析问题，根据测试功能不同可区分为JW-BK112、JW-BK122W、JW-BK222三种型号，其中，JW-BK122W型因配置有小量程10torr压力传感器，配合二级吸附泵技术，可有效分析0.7nm以上微孔材料的孔径分布需求。 

低温条件下（液氮或液氩等），在密闭的真空系统中，改变吸附质气体压力，通过高精密压力传感器测量出样品吸附气体分子前后的压力变化值，进而计算出气体吸附量，描绘出等温吸脱附曲线，应用各种物理分析模型进行比表面积及孔隙度分析。

参数亮点

孔径范围：0.35nm - 500nm

比表面积范围：0.0005m2/g - 无上限

中值孔径重复性：≤0.02nm

产品特点

测试原理

低温条件下（液氮或液氩等），在密闭的真空系统中，改变吸附质气体压力，通过高精密压力传感器测量出样品吸附气体分子前后的压力变化值，进而计算出气体吸附量，描绘出等温吸脱附曲线，应用各种物理分析模型进行比表面积及孔隙度分析。

真空脱气

集同位、异位真空脱气于一体的标准化设计，样品分析的同时，可以进行另外2个样品不同温度及时间的异位脱气处理；分析站可同时进行2个样品不同温度及时间的同位脱气处理材料

测试模块

核心设计，死体积空间Vd小，内部温度Td实时检测及控制，***了吸附量测定的科学性和准确性；

液氮面控制

采用3L大容量真空玻璃内胆杜瓦瓶、高效封盖、小内截面、软件修正等综合控制技术，使测试过程中样品管内非均匀温度场保持相对恒定（等温）

防抽飞

自控可调式多通道并联真空系统，抽真空速度得到精细的"阶梯式"自动控制，防样品抽飞；同时设计内置式防抽飞单元，将超细微粉可能被抽飞的可能性降至***，可有效避免仪器受到污染

数据分析

完整的物理吸附计算模型供灵活选择，包括：

-等温吸脱附曲线；

-BET比表面积（单点、多点）；

-Langmuir表面积；

-外表面积（STSA）；

-BJH孔径分析；

-t-plot分析；

-DR、DA、MP方法；

-HK孔径分析；

-SF孔径分析；

-NLDFT孔径分布；

-可几孔径、平均孔径、总孔体积；

-吸附曲线、吸附热计算，等等；

成功客户

天津大学

南开大学

天津工业大学

大连理工大学

长春应化所

广州能源所

中石油

神华集团

如果您想了解更多关于JW-BK112/222 比表面积测试仪的详细信息，请登录，或拨打400-600-5039